عنوان فارسیناهنجاری های آنورکتال در کودکان: جنین شناسی ، تشخیص ، درمان جراحی ، پیگیری
عنوان اصلیDefect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
ویرایش2
ناشرSpringer
نویسندهManoj Sachdev José Pineda de Gyvez
ISBN 9780387249933 0387249931
سال نشر2007
زبانEnglish
تعداد صفحات342
دسته
سازمان و پردازش داده ها
فرمت کتابpdf – قابل تبدیل به سایر فرمت ها
حجم فایل6 مگابایت
آنتونی رابینز میگه : من در 40 سالگی به جایی رسیدم که برای رسیدن بهش 82 سال زمان لازمه و این رو مدیون کتاب خواندن زیاد هستم.
نقد و بررسیها
هیچ دیدگاهی برای این محصول نوشته نشده است.